可用于提高DIC测量精度与效率的软、硬件工具尽在于此!
当您可以用我们的DIC系统很容易地获得定量的数据时, 请不要再满足于定性分析!
Don't settle for qualitative data when you can easily quantify it with our DIC systems!
µTS是独特的适用于纳米压头和宏观万能加载系统之间的介观尺度微型万能材料试验系统,可通过数字图像相关软件(DIC)和显微镜结合的非接触式测量来获取局部的应变场数据。
Shearography / ESPI技术的激光无损检测系统,用于复合材料与结构的非破坏性强度和缺陷检测。
【2020年2月6日,华盛顿特区】 美国Correlated Solutions, Inc.公司联合创始人Dr. Michael A. Sutton当选美国国家工程院院士。
【2022年04月08日,Online】软件版本更新! • VIC-Gauge 2D及3D更新版本, 建议现有需要的用户更新。超长时稳定性并支持与全场疲劳并行处理。