可用于提高DIC测量精度与效率的软、硬件工具尽在于此!
当您可以用我们的DIC系统很容易地获得定量的数据时, 请不要再满足于定性分析!
Don't settle for qualitative data when you can easily quantify it with our DIC systems!
µTS是独特的适用于纳米压头和宏观万能加载系统之间的介观尺度微型万能材料试验系统,可通过数字图像相关软件(DIC)和显微镜结合的非接触式测量来获取局部的应变场数据。
Shearography / ESPI技术的激光无损检测系统,用于复合材料与结构的非破坏性强度和缺陷检测。
研索仪器科技(ACQTEC)将于2018年5月分别在南京、武汉举办测量技术应用研讨会,与关注DIC技术发展的用户共同探讨高质量DIC测量所需的知识储备与应用边界问题。
美国Correlated Solutions, Inc (CSI)公司与中国代理商研索仪器科技(ACQTEC)将于2018年5月17日在上海举办DIC技术发展趋势研讨会。